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Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit Dr. Torsten Hahn German edition
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Berührungslose Defektanalytik Von Halbleitermaterialien: Modellierung Und Quantitative Analyse Der Mikrowellendetektierten Photoleitfähigkeit
Dr. Torsten Hahn
| Media | Books Paperback Book (Book with soft cover and glued back) |
| Released | May 18, 2011 |
| ISBN13 | 9783838124407 |
| Publishers | Südwestdeutscher Verlag für Hochschulsch |
| Pages | 152 |
| Dimensions | 150 × 9 × 226 mm · 244 g |
| Language | German |